Röntgendiffraktometrie ( X-ray Diffractometry XRD)

Mit Hilfe der Röntgendiffraktometrie (XRD) kann die Struktur von Festkörpern untersucht werden. In unserem Fall wird die XRD auch zur Untersuchung der Struktur und Kristallinität der MOFs herangezogen.


Hierzu werden zwei Maschinen eingesetzt:

für die out-of-plane Messung ein Bruker D8 Advance, mit deren Hilfe die Abstände der Netzebenen, die parallel zum Substrat orientiert sind, vermessen werden, und

für die in-plane Messung ein Bruker D8 Discover, mit deren Hilfe die Abstände der Netzebenen, die senkrecht zum Substrat orientiert sind, vermessen werden.



XRD-Planes

 

 Abb1b

 

Abb1c

Out-of-plane und in-plane Diffraktogramm eines MOF.

 

Für die Pulver-XRD (PXRD) steht neben dem D8 Advance noch ein Siemens D5000 zur Verfügung.

 

Abb2_Calcite

 

 

Ausstattung

 

Klassifikation: Röntgenbeugung (XRD/ GID/XRR)

 

Beschreibung/Einzelheiten:

 

  • Bruker D8 Advance mit Bragg-Brentano Geometrie (θ - θ ) für out-of-plane Messungen (coplanare Geometrie) mit PSD Lynxeye (192 Si-Streifen Detektor), 9-fach Probenhalter, Cu-Strahlung

  • Bruker D8 Discover, zentrische Viertel-Euler-Wiege PSD Lnyxeye (192 Si- Streifen Detektor), tilt-stage für in-plane (non-coplanar) and Reflektometrie, Cu-Strahlung

  • Siemens D5000 Bragg-Brentano Geometrie, (θ - 2θ), Graphit-Monochromator, Szintillationszähler, 40-fach Probenhalter

  • Paar HTK 1200 Heizkammer (bis 1200°C in Luft und Schutzgasatmosphäre)

 

 

Stichworte: XRD, GID, XRR