Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)

Arbeitsgruppe ToF-SIMS

Wir untersuchen Substrate (Hartstoffe, Polymere, Self Assembled Monolayers, Solarzellen, Membranen, SurMOFs und SurGels), die aus unterschiedlichsten Herstellungs-und Strukturierungsprozessen stammen, mittels Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF.SIMS5 von ION-TOF, Münster). Damit kann die elementare und molekulare Zusammensetzung einer Probenoberfläche erfasst werden (statische SIMS). Dazu wird die Probe im Ultrahochvakuum mit schnellen Primärionen beschossen um Sekundärionen herauszuschlagen. Mittels eines Flugzeitanalysators wird ein Massenspektrum des Probenmaterials gewonnen. Diese Massenspektrometrie kann bildgebend eingesetzt werden und erreicht Lateralauflösungen zwischen 300-3000 nm. Bei der dynamischen SIMS wird die Probe durch den Ionenbeschuss erodiert um Elementinformationen als Funktion der Tiefe zu erfassen.

 

Animation

 

 

Die Animation zeigt die 3d-Struktur einer strukturierten Poly(2-methacryloyloxyethyl phosphorylcholin) Schicht auf einem SI-ATRP Inititator. [DOI: 10.1021/acsami.8b11525]

 

 

Diese Analytik wird in der Oberflächenanalytik Plattform des Helmholtz-Programms BioInterfaces und in der Karlsruhe Nano Micro Facility für Kooperationsprojekte genutzt.