Institute of Functional Interfaces

Multimode AFM mit Nanoscope IIIa Controller

Spezifikationen: Multimode AFM mit Nanoscope IIIa Controller

Device Designation: Multi Mode
Classification: Atomic force microscope (AFM)
Description/Features:  
  • Rasterkraftmikroskop (Atomic force microscope - AFM) für Untersuchungen an Luft und in Flüssigkeiten Digital Instruments NanoScope MultiMode mit NanoScope IIIa Kontrolleinheit)

     

  • Betriebsarten: Contact- und Non-Contact-Modus, Lateralkraft-Modus, Abbildung mit elektrostatischen und magnetostatischen Kraft-Wechselwirkungen

     

  • Scanner für Abbildungsbereiche von 10µm × 10µm (Hochauflösung) und Großfeldscanner für Abbildungsbereiche von 125µm × 125µm

     

  • Video-Mikroskop zur gezielten Positionierung der Spitze auf strukturierten Proben

     

  • Messkopf für den Betrieb als Rastertunnelmikroskop (engl. Scanning tunneling microscope, STM
Keywords: AFM