Home | english  | Impressum | Sitemap | KIT
Ansprechpartner

Dr. Alexei Nefedov

Dr. Alexei Nefedov

+49-721-608-2-3551
+49-721-608-2-3478
E-Mail

 

NEXAFS-Spektroskopie an Grenzflächen

 

Die Röntgen-Nahkanten-Absorptions-Spektroskopie (Near Edge X-ray Absorption Fine Structure - NEXAFS) wird zur Untersuchung der elektronischen Struktur organischer Adsorbate auf Metalloberflächen und Metalloxidoberflächen verwendet.

 

Bei der Absorption von Röntgenstrahlung durch Materie werden kernnahe Elektronen in unbesetzte Molekülorbitale angeregt. Die Anregung geschieht unter Emission von Augerelektronen, die durch unelastische Streuprozesse in der Probe vervielfacht werden. Die so entstandenen Augerelektronen können in einem Detektor nachgewiesen werden.

 

Aus Röntgen-Nahkanten-Absorptions-Spektroskopie (Near Edge X-ray Absorption Fine Structure - NEXAFS)-Messungen können Erkenntnisse über molekulare Orientierungen und Bindungen der Adsorbate an die Oberflächen gewonnen werden.

 

Zur gezielten Anregung kernnaher Elektronen in unbesetzte Orbitale wird Synchrotronstrahlung benötigt, die eine sehr hohe Intensität und eine gute Polarisierung (>90%) besitzt. Zur Durchführung von Röntgen-Nahkanten-Absorptions-Spektroskopie (Near Edge X-ray Absorption Fine Structure - NEXAFS)-Experimenten wurde die Messapparatur daher zum Berliner Elektronenspeicherring für Synchrostronstrahlung (BESSY) transportiert und dort an das Strahlrohr-high-energy-spherical-grating-monochromator (HESGM) des Speicherrings angeschlossen.

 

Die Apparatur arbeitet in einem Ultrahochvakuum von 10-10 mbar. Sie verfügt über eine Schleuse inklusive Transfersystem zur Handhabung der Proben, über eine Präparationskammer und über eine Messkammer. Der Manipulator erlaubt Messungen unter verschiedenen Winkeln sowie Heizen und Kühlen (T von 40 K bis 1200 K) der Probe.

Neben der Röntgen-Nahkanten-Absorptions-Spektroskopie (Near Edge X-ray Absorption Fine Structure - NEXAFS) sind auch Messungen mit den Techniken Röntgenphotoelektronenspektroskopie (X-ray photoelectron spectroscopy - XPS), Beugung niederenergetischer Elektronen ( Low energy electron deflection - LEED) und thermische Desorptionsspektroskopie (TDS) möglich.

 

Weitere Informationen zur Röntgen-Nahkanten-Absorptions-Spektroskopie (Near Edge X-ray Absorption Fine Structure - NEXAFS) finden Sie hier.

 

NEXAFS
NEXAFS-Anlage bei BESSYII

Aktuelle Publikationen:
Titel Autor Quelle

Langner, J. / Bruns, M. / Dixon, D. / Nefedov, A. / Wöll, C. / Scheiba, F. / Ehrenberg, H. / Roth, C. / Melke, J. (2016) 

doi:10.1016 / j.jpowsour, 2016, 321, 210-218

Zhang, Z. / Wächter, T. / Kind, M. / Schuster, S. / Bats, J. W. / Nefedov, A. / Zharnikov, M. / Terfort, A. (2016) 

ACS Appl. Mater. Interfaces,(2016), 8, 11, 7308–7319,
DOI: 10.1021/acsami.6b00532 

Melke, J. / Peter, B. / Habereder, A. / Ziegler, J. / Fasel, C. / Nefedov, A. / Sezen, H. / Wöll, C. / Ehrenberg, H. / Roth, C. (2016)

ACS Appl. Mater. Interfaces,(2016), 8, 1, 82–90,
DOI: 10.1021/acsami.5b06225 

Verbitskiy, N. / Fedorov, A. / Profeta, G. / Stroppa, A. / Petaccia, L. / Senkovskiy, B. / Nefedov, A. / Wöll, C. / Usachov, D. / Vyalikh, D. / Yashina, L. / Eliseev, A. / Pichler, T. / Grüneis, A. (2015)

Sci Rep. (2015); 5: 17700

Fedorov, A. / Praveen, C., S. / Verbitskiy, N., I. / Haberer, D. / Usachov, D. / Vyalikh, D., V. / Nefedov, A. / Wöll, C. / Petaccia, L. / Piccinin, S. / Sachdev, H. / Knupfer, M. / Büchner, B. / Fabris, S. / Grüneis, A. (2015)

Phys. Rev. B, (2015), 92, 125440(7)

Bashir, A. / Heck, A. / Narita, A. / Feng, X. / Nefedov, A. / Rohwerder, M. / Müllen, K. / Elstner, M. /Wöll, C. (2015)

Phys. Chem. Chem. Phys., (2015), 17, 21988-21996