Home | english  | Impressum | Sitemap | KIT
Ansprechpartner

 

 

Dr. Alexander Welle

+49-721-608-2-6559
+49-721-608-2-3478
E-Mail

 

Arbeitsgruppe ToF-SIMS

Wir bearbeiten und untersuchen Substrate (Hartstoffe, Polymere, Self Assembled Monolayers, SurMOFs und SurGels), die aus unterschiedlichsten Herstellungs-und Strukturierungsprozessen stammen. Photolithographische Verfahren dienen der Erzeugung von chemischen Mustern, die eine Kontrolle der Zelladhäsion, -orientierung und -funktion ermöglichen. Wir untersuchen die Auswirkungen der Oberflächenchemie auf die Proteinadsorption und auf den Differenzierungsstatus von Zellen.

Wir betreiben ein Sekundärionen-Massenspektrometer (TOF.SIMS5 von ION-TOF, Münster). Durch die Sekundärionen-Massenspektrometrie kann die elementare und molekulare Zusammensetzung einer Probenoberfläche erfasst werden (statische SIMS). Dazu wird die zu untersuchende Oberfläche im Ultrahochvakuum mit schnellen Primärionen (Bi cluster oder C60) beschossen um Sekundärionen aus der Probe herauszuschlagen.

Mittels eines Flugzeitanalysators wird ein Massenspektrum des Probenmaterials gewonnen. Diese Massenspektrometrie kann bildgebend eingesetzt werden und erreicht Lateralauflösungen zwischen 300-3000 nm. Bei der dynamischen SIMS wird die Probe durch den Ionenbeschuss erodiert um Elementinformationen als Funktion der Tiefe zu erfassen.

ToF

Diese Analytik wird in der Oberflächenanalytik Plattform des Helmholtz-Programms BioInterfaces und in der Karlsruhe Nano Micro Facility für Kooperationsprojekte genutzt.