Analysemethoden
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Rasterkraftmikroskopie (Atomic force microscopy - AFM) |
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Schwingquarzmikrowaage mit Dessipationsmessung (Quarz crystal microbalance with dissipation-monitoring - QCM-D) |
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Oberflächenplasmonenresonanz-Spektroskopie (Surface plasmon resonance - SPR - spectroscopy) |
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Dr. Alexei Nefedov
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Röntgen-Nahkanten-Absorptions-Spektroskopie (Near Edge X-ray Absorption Fine Structure - NEXAFS) |
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Dr. Peter Weidler
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Oberflächenmessung und Porositätsbestimmung |
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Dr. Peter Weidler
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Röntgendiffraktometrie ( X-ray Diffractometry-XRD) |
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Environmental Scanning Electron Microscope mit Feldemissionskathode (ESEM-FEG) |
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Stefan Heissler
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Raman-Spektroskopie |
Stefan Heissler
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IR-Spektroskopie |